Mikrocontroller
1 Einfuehrung
..1.1 Entwicklungsgeschichtliches
..1.2 Maschinensprache
..1.3 Assemblerbeispiel
..1.4 Sprachwahl
..1.5 Praxis
....1.5.1 Digital_IO
....1.5.2 Byteoperationen
....1.5.3 AVR_Studio
....1.5.4 Testboard
....1.5.5 Aufgaben
....1.5.6 Do_it_yourself
......1.5.6.1 Ampel
......1.5.6.2 Programmierer
..1.6 Literatur
2 Oszillator
..2.1 Assembler
..2.2 Interner_RC
..2.3 Quarz
..2.4 Taktgenerator
3 DigitalIO
..3.1 Elektrische_Eigenschaften
..3.2 Pullup_Widerstaende
..3.3 Bitmasken_Eingang
..3.4 Bitmasken_Ausgang
..3.5 Tic_Tac_Toe
....3.5.1 DuoLEDs
....3.5.2 Schaltplan
....3.5.3 Spielfeld
....3.5.4 Anwahl
....3.5.5 Kontrolle
..3.6 Laboruebung2
4 PWM
..4.1 Prinzip
..4.2 Nutzen
..4.3 Generierung
..4.4 Programmierung
..4.5 Servos
..4.7 Laboruebung3
..4.8 LoesungUE3
5 ADW
..5.1 ADW
..5.2 Zaehler
6 UART
..6.1 Bussysteme
..6.2 UART
..6.3 RS232
..6.4 Hardware
..6.5 Senden
..6.6 Hyperterminal
..6.7 Empfangen
..6.8 Broadcast
7 OOP
..7.1 Probleme
..7.2 Konzept
..7.3 Statisch
..7.4 Datentypen
..7.5 RS232
....7.5.1 Prozedural
....7.5.2 Analyse
....7.5.3 Umsetzung
....7.5.4 Vererbung
....7.5.5 Statisch
....7.5.6 Performance
8 SPI
..8.1 Testanordnung
..8.2 Register
..8.3 Test1
..8.4 Test2_Interrupt
..8.5 Test3_2Slaves
..8.6 Laboruebung5
9 Autonomes_Vehikel
..9.1 Agentensysteme
..9.2 Schwarmintelligenz
..9.3 Aufbau
..9.4 Skript
....9.4.1 Funkkorrektur
....9.4.2 Skriptsprachen
....9.4.3 Anforderungen
....9.4.4 Agentensysteme
....9.4.5 Implementierung
....9.4.6 Experimente
..9.5 Uebung6
....9.5.1 Testprogramme
10 Algorithmen
11 DFT
12 FFT
13 Signalerzeugung
..13.1 Zaehler
..13.2 Ultraschall
..13.3 Sinuserzeugung
....13.3.1 Variante1
....13.3.2 Variante2
....13.3.3 Variante3
....13.3.4 Variante4
..13.4 Laboruebung7
14 Regelkreis
..14.1 Drehzahlerfassung
..14.2 Regelungstechnik
..14.3 Programmiertechnik
15 Peripherie
..15.1 RS232Menue
..15.2 ASCIIDisplay
..15.3 Tastenmatrix
..15.4 LCD
..15.5 Auswahl
..15.6 Schwarmintelligenz
..15.7 Laboruebung8
16 Layouting
..16.1 Grundschaltung
..16.2 kicad
..16.3 Bauteileditor
..16.4 Loettechnik

Anwendung von Mikrocontrollern, Sommersemester 2011

Diese Lehrveranstaltung beschäftigt sich schwerpunktmäßig mit der Konfiguration und Programmierung der in einem Mikrocontroller integrierten Peripherie. Exemplarisch wird der ATmega32 verwendet.

Prüfungsform

Die Prüfung findet Semester begleitend an drei weiter unten ausgewiesenen Terminen in elektronischer Form statt. Jede Teilprüfung hat eine Dauer von 30 Minuten und zählt ein drittel für die Gesamtnote. Der Mittelwert der Noten aus allen Teilprüfungen ergibt dann die Endnote. Vor Teilnahme an den Prüfungen, muß jeder Studierende eine Einverständniserklärung unterschreiben. Mit der Unterschrift bestätigen die Studierenden die Übereinstimmung der elektronischen Variante mit dem Papierausdruck. Außerdem melden sich die Studierenden mit ihrer Unterschrift verbindlich für die Semester begleitende Prüfungsform mit allen möglichen Konsequenzen an, insbesondere akzeptieren sie damit auch die Möglichkeit des Nicht-Bestehens der Prüfung und des damit verbundenen Verlustes eines Prüfungsversuches. Studierende, die nicht die Bereitschaft haben, sich der Semester begleitenden Prüfung zu unterziehen, sind auch von der Teilnahme an den Teilklausuren ausgeschlossen.Ihnen wird im Prüfungszeitraum eine vergleichbare 90 Minütige Klausur in elektronischer Form gestellt werden.

Hinweise für höhere Semester

Es ist zunächst nicht geplant die Prüfung in anderer Form anzubieten, als der oben genannten. Wenn Sie vorhaben teilzunehmen, setzen Sie sich bitte mit mir in Verbindung.

Ort und Termine für die Semester begleitenden Teilklausuren in elektronischer Form (E-Test)

Alle drei elektronischen Klausuren finden im Rahmen der Übungen statt und sollen im IWZ, im Raum 219 abgehalten werden. Eine zu große Teilnehmerzahl in den Übungsgruppen kann es aber erforderlich machen, dass auf einen anderen PC-Pool ausgewichen werden muß. In diesem Fall werden Sie an dieser Stelle hier rechtzeitig informiert. E-Test Nr.1: Donnerstag 05.05.2011 10:15Uhr, IWZ Raum 135 E-Test Nr.2: Donnerstag 26.05.2011 10:15Uhr, IWZ Raum 135 E-Test Nr.3: Donnerstag 23.06.2011 10:15Uhr, IWZ Raum 135